専用のソリューションが使われることが多いものの、単一用途の問題を解決することにより、別の用途の同様の課題のソリューションが生み出せることもあります。
寸法が非常に小さく、材質組成が複雑で、試験用の関心点が非常に具体的なコンポーネントは、マイクロエレクトロニクスの微細構造と特徴付けられています。専用の設備および付属品のCMR(材料除去量制御装置)は、材料微細構造検査用試料作製(切断、埋込、研磨、琢磨)における従来の原則と組み合わせてこの用途で使用されています。
構造部品または簡単にアクセスまたは移動できない大型部品で、試験後正常な状態である必要のある部品は、現場で材料微細構造をテストします。特別な複製技術および特殊な製品によって、試料を切断しなくても微細構造試験が可能です。
試料作製方法の選択時に構造的なアプローチを行うことで、自然素材で多重構成の試料に材料微細構造を適用することができます。この特殊用途で培ったスキルは、自動化おおび再現可能な製品および方法で置き換えることができます。
電子利用可能で機械的衝撃の影響を全く受けない超薄試料の作製は、特殊な材料微細構造の課題です。専用装置による電解研磨は、このタスクの問題に適したソリューションです。
ストルアスへお問い合わせいただき誠にありがとうございます。お客様がサポートが必要な項目を下記から選択してください。担当者よりご返答させていただきます。※液体製品のSDS(安全データシート)は、https://www.struers.com/Library#sds に掲載しております。また、JPから始まる商品コードのSDSはお問い合わせフォームからご依頼ください。
* フィールドは必須です
お問い合わせいただき、ありがとうございます。 すぐに回答いたします。
全ての必須項目に入力してください。
あなたのリクエストは受信され、処理されます。 Google ReCaptcha によって拒否されましたが、それ以上のアクションは必要ありません。
予期しないエラーが発生しました。後でもう一度お試しいただくか、他のチャネルを通じてお問い合わせください。