Traditionelle materialographische Grundsätze können angepasst werden, um spezifische Probleme bei einer bestimmten Applikation zu lösen.
Häufig werden spezifische Lösungen verwendet, die Erfahrung zeigt aber, dass die Lösung eines Problems bei einer Applikation in der Regel bei der Lösung eines ähnlichen Problems in einer anderen Applikation hilfreich ist.
Die materialographische Untersuchung von Mikroelektronik ist durch Komponenten mit geringen Abmessungen, komplexe Werkstoffzusammensetzungen und ganz bestimmte Schwerpunkte einer Untersuchung gekennzeichnet. Für diese Applikationen wird ein kontrollierter Materialabtrag mit Spezialgeräten und -zubehör unter Verwendung der herkömmlichen Grundsätze materialographischer Verfahren verwendet: Trennen, Einbetten, Schleifen und Polieren.
Bauteile und große Komponenten, die nur schwer zugänglich bzw. schwer beweglich sind und die durch die Prüfung nicht zerstört werden dürfen, werden materialographisch vor Ort untersucht. Spezielle Kopier- und Abdrucktechniken sowie Spezialgeräte ermöglichen eine Untersuchung der Mikrostruktur ohne ein Trennen der Probe.
Die materialographische Untersuchung von Proben mit unterschiedlichen Bestandteilen/Zusammensetzungen ist mit einem strukturierten Ansatz bei der Wahl der Präparationsmethode durchaus möglich. Die bei dieser Sonderanwendung gesammelten praktischen Erfahrungen können durch automatisierte Produkte und Verfahren mit hoher Reproduzierbarkeit ergänzt werden.
Die Präparation von kleinen, ultradünnen Proben ohne selbst kleinste mechanische Einwirkungen, damit die Probe für den Elektronenstrahl durchdringbar ist, ist eine spezielle Herausforderungen für den Materialographen. Diese Aufgabe lässt sich nur durch Elektropolieren in Spezialgeräten lösen.